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测试S11恶化,求高人指教
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测试S11恶化,求高人指教
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xindereck
UID :19891
注册:
2008-10-23
登录:
2015-12-22
发帖:
57
等级:
仿真一级
0楼
发表于: 2014-07-23 22:39:14
此悬赏帖已过期
最佳答案:1 rf币
,
穷人一名,但确实有问题需要高人指点
图片:11.jpg
@r=v*hu
由于测试的时候没有加工腔体,导致S11高频段也变小了。请问这个是由于接头焊接问题还是基片在测试时候变形导致的?
;V)jC
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[img]file:///C:\Users\ThinkPad\Documents\Tencent Files\307213166\Ima ..
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,
rf币
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chenjiabao1989
rf币
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2014-07-25
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