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请教个用FloEMC测试屏蔽效能的问题
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[提问讨论]
请教个用FloEMC测试屏蔽效能的问题
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cxw770
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10楼
发表于: 2009-03-04 16:52:37
楼上一位朋友说:
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屏效曲线直接决定器件的兼容性,即通过和军标限的比较,得到冗余度。这是EMC最关心的问题。
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===========================================================================
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怎么得到?比如下边这两个图(图中,一个是有屏蔽的,一个是没有屏蔽的).,这个冗余度是怎么看的?
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cxw770
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11楼
发表于: 2009-03-04 16:53:31
我的图怎么发不上啊??
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cxw770
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12楼
发表于: 2009-03-04 16:54:22
我的图怎么发不上啊??
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您正在看的文章来自RFEDA微波社区--微波仿真论坛 原文地址:
http://bbs.rfeda.cn/read.php?tid=20530
[attachment=16289]
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13楼
发表于: 2009-03-04 18:43:12
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2005国际电磁兼容学术研讨会论文集·摘要.rar
(65 K) 下载次数:10
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14楼
发表于: 2009-03-04 18:44:12
楼上一位朋友说:
umV5Y`
屏效曲线直接决定器件的兼容性,即通过和军标限的比较,得到冗余度。这是EMC最关心的问题。
|Rk$u
===========================================================================
~Y^ UP
怎么得到?比如下边这两个图(图中,一个是有屏蔽的,一个是没有屏蔽的).,这个冗余度是怎么看的?
4OLq
您正在看的文章来自RFEDA微波社区--微波仿真论坛 原文地址:
http://bbs.rfeda.cn/read.php?tid=20530
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chenkaione
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15楼
发表于: 2009-05-14 14:53:21
对于被测试设备来说,场强的频率特性曲线中每个频率点接收到的场强都应该小于所选测试标准的最大值,一般来说该标准是在测试曲线上对应为由几条不同斜率直线的连线,常用的标准主要分为军用标准和民用标准。只要在测试频段内,所有频率点的场强都小于测试标准的上限值,则说明该机箱在测试频段内满足屏蔽要求。
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