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网分可不可以直接测量工作状态下的电路
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网分可不可以直接测量工作状态下的电路
离线
sioca
UID :65449
注册:
2010-08-28
登录:
2012-07-02
发帖:
38
等级:
仿真新人
0楼
发表于: 2010-11-21 20:18:04
[table=931px][tr][td]我理解网分的
原理
是:扫频并且接收反射波。根据
输入
输出
的幅度相位来计算所有参数。
WhSQ>h!@s
那么比如要测PA的传递系数,PA需要调到工作点上。Q1:
CY0|.x
但是如果是测试RFIC 输出端的输出阻抗呢,
c&3 ]%urL
1.如果RFIC工作在载波模式,可不可以直接测量S参数?
1a| q&L`o
如果RFIC工作在调制模式呢?
@W=#gRqQPy
可以的话,希望能简单说一下原理。
P 5m{}@g
Q2:
wQ*vcbQX*
按照
电路
原理,如果是测PA(假设是
三极管
)端的输出阻抗,PA需要有直流工作点并且输入端需要匹配。
q>%KIBh(
那么如果不知道三极管的输入阻抗,需要怎么测量输出阻抗呢?大家拿到一个三极管,
调试
的大概流程是怎样的呢?
$/5Jc[Ow
AASw^A3p
现在很多非微波射频
专业
的人都开始做基于RFIC的产品,这些问题肯定大家都会碰到, ..
22`W*e@6h
fg%I?ou
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