[互助]有通过测量s参数反推介电常数的程序与方法吗？

有通过测量s参数反推介电常数的程序与方法吗？ N U|d  
#6ri-n  
Em?d*z  
像混叠的介电材料 能通过测量分离出来吗？例如4层板 可以测量top-gnd与bottom-vcc与top-bottom这样的方式推导出中间层的介质材料的介电常数与插损角之类的数据？ Ne
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还有像一些导体材料的特性与损耗的一些因素是否可以 .. S M!Txe#  
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有! 本版里找找...网友发了好几次了。

foxman:有! 本版里找找...网友发了好几次了。 (2015-12-09 11:07)  _BFOc>0  

p~.8\bI=  
在哪块？主题是？ 另外就是设计时候的方法与测量

有了S11就可以看你怎么算

mengzhuhao:
在哪块？主题是？ 另外就是设计时候的方法与测量 =#
b4c>  

89db5Dx  
我的思维里不是直接给出答案、是引导各位想办法从根源处去突破! 直接给你答案是害你、不是帮你，今年开始的经济、科普、制造业灾难式的崩毁恶果，都是缘起于没有基础又躁进、山寨又没灵魂的收获。 JR!Q,7S2!N  
首先学会关键字搜寻: sparameter calculate dielectric constant (这是你的思维模式去决定的，但不建议使用百度这种不及格的局域网搜寻器)。 VZt;P%1;h  
再来是给你最终解答的前一步: (因为它的过程比解答重要)。 T0s35z9  
RAC-0607-0019_1_5E.pdf (537 K) 下载次数:35 y~x#pC*w  

图片:R01.jpg

^uM_b  
** 这应该是经典...自己体会。

有了s参数可以反推瞬态阻抗 5JO[+>  
Ngn\nkf  
但是针对不同结构的介电常数应该按照哪个比较准确的公式推导? t^`<*H  
I[tAT
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具体不知道你用的什么方法测试的，有谐振腔。传输反射等等一系列方法。你说的用瞬态阻抗具体不是很清楚。不同的结构算法基本是一致的，稍微有点不同 <T=o]M$  
 # 8-P  
内容来自[短消息]

这个问题挺有意思

受到启发。